HP9000 LED芯片光色電參數綜合測試儀由LED光色電特性分析系統和LED芯片測試平臺組成。芯片測量平臺由樣品臺、三維探針架、光強測量支架、顯微鏡和電路控制盒燈部分構成，光強測量選用CIE-A條件，光纖耦合，能夠快速平穩地點亮各種LED芯片，配合光譜測試系統即可測量芯片的各種光色電參數。具有測量參數分檔顯示功能，方便與各種分光分色測試機配套。