CHY-C2測厚儀

2021-08-26 16:33:48 394

產(chǎn)品摘要

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產(chǎn)品詳情

CHY-C2測厚儀
專　　業(yè)
CHY-C2 測厚儀采用接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇

實時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷

配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果

系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗操作和數(shù)據(jù)查看

標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

支持Lystem™實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告

測試標(biāo)準(zhǔn)
該設(shè)備滿足多項**和標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
測試應(yīng)用

基礎(chǔ)應(yīng)用	薄膜薄片	適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試
	紙張	適用于紙張、紙板的厚度測試
	箔片、硅片、金屬片	適用于箔片、硅片、金屬片的厚度測試
	紡織、無紡布材料	適用于紡織材料的厚度測試
	固體電絕緣體	適用于固體電絕緣體的厚度測試

擴(kuò)展應(yīng)用	量程擴(kuò)展至5，10mm	適用于測試薄膜、片材的厚度
擴(kuò)展應(yīng)用	測量頭為曲面	滿足特殊場合的厚度測試

技術(shù)指標(biāo)

指標(biāo)	參數(shù)
負(fù)荷量程	0 ～ 2 mm（常規(guī)）
負(fù)荷量程	0 ～ 6 mm；12 mm （可選）
分辨率	0.1 μm
測量速度	10 次/min （可調(diào)）
測量壓力	17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積	50 mm²（薄膜）；200 mm²（紙張）注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源	AC 220V 50Hz
外形尺寸	300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H)
凈重	33 kg